特許
J-GLOBAL ID：200903083261043066
ブリスターの充填量を検査する方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
志賀 正武
, 渡邊 隆
, 村山 靖彦
, 実広 信哉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-126364
公開番号（公開出願番号）：特開2008-281569
出願日： 2008年05月13日
公開日（公表日）： 2008年11月20日
要約：
【課題】ブリスターパックのポケットを満たす粉末物質の薄層の形態にある材料の体積を検査する方法を提供する。【解決手段】測定システム(3)の測定領域(9)に、反射性で粉末物質の薄層で満たされた複数のポケット(11)をもつブリスターパック(5)をもたらす段階(40);粉末物質(13)を近赤外放射にさらす段階(42);ポケット(11)から反射される放射を検出し、ポケット(11)に対する実際の反射スペクトル(25b)の少なくとも一部の範囲を記録する段階(44);実際の反射スペクトル(25b)の少なくとも一部の範囲に対して、実際の反射スペクトル(25b)で表示された強度に関連した実際の値を計算する段階(46);実際の反射スペクトル(25b)の少なくとも一部の範囲において、計算された実際の値と基準値とを比較する段階(48);比較結果の関数として粉末物質(13)の濃度に対する層厚さの比を検査する段階(50)を含む。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
少なくとも1つのブリスターパック(5)のポケット(11)を満たす粉末物質(13)の薄層の形態にある材料の体積を検査する方法であって:
--測定システム(3)の測定領域(9)に少なくとも1つのブリスターパック(5)を提供する段階(40)であって、反射性となるよう設計され、粉末物質(13)の薄層で満たされた複数のポケット(11)を、該ブリスターパックが有するようにする段階と;
--前記ブリスターパック(5)のポケット(11)の少なくとも1つにおける粉末物質(13)を、近赤外放射にさらす段階(42)と;
--前記ポケット(11)から反射される放射を検出することによって、それぞれのポケット(11)に対する実際の反射スペクトル(25b)の少なくとも一部の範囲を記録する段階(44)と;
--実際の反射スペクトル(25b)の少なくとも一部の範囲に対して、実際の反射スペクトル(25b)で表示された強度に関連した実際の値を計算する段階(46)と;
--実際の反射スペクトル(25b)の少なくとも一部の範囲において、計算された実際の値と、少なくとも1つのモデルスペクトル(25a)において表示された強度に関連した対応する基準値と、を比較する段階(48)と;
--前記比較結果(48)の関数として、粉末物質(11)の濃度に対する層厚さの比を検査する段階(50)と、
を有することを特徴とする方法。
IPC (3件)：
G01B 11/06
, G01N 21/35
, G01N 21/27
G01B11/06 H
, G01N21/35 Z
, G01N21/27 B
2F065AA30
, 2F065AA59
, 2F065CC00
, 2F065FF04
, 2F065FF41
, 2F065FF46
, 2F065GG21
, 2F065JJ03
, 2F065LL02
, 2F065MM03
, 2F065PP15
, 2F065QQ03
, 2F065QQ42
, 2G059BB09
, 2G059EE02
, 2G059HH01
, 2G059JJ01
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
出願人引用 (2件)
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欧州特許第1 193 177A号明細書
-
欧州特許第0 887 638A号明細書
審査官引用 (2件)
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