粒度分布測定方法および装置

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：円城寺貞夫 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-238387
公開番号（公開出願番号）：特開2002-048700
出願日： 2000年08月07日
公開日（公表日）： 2002年02月15日
要約：

【要約】【課題】測定者が粉体試料の屈折率等を設定する必要がなく、自動的に高精度の粒度分布を測定することのできる粒度分布測定方法および装置を提供する。【解決手段】相異なる複数種類の波長の照射光を発生可能な光源2から前記測定領域4にある前記試料に照射光を照射する手順と、前記照射光が前記試料によって回折・散乱された散乱光の散乱角度に対応した強度分布を複数種類の波長の照射光について測定する手順と、所定の演算定数の値を仮定して複数種類の波長の照射光による散乱光の強度分布からその波長に対応する粒度分布を演算し、それらの波長に対応する粒度分布の一致性を評価するとともに前記演算定数の値を変更することにより前記演算定数の値を決定する手順とを有する。

請求項（抜粋）：

測定領域(4)にある試料の粒度分布を測定するための粒度分布測定方法であって、相異なる複数種類の波長の照射光を発生可能な光源(2)から前記測定領域(4)にある前記試料に照射光を照射する手順と、前記照射光が前記試料によって回折・散乱された散乱光の散乱角度に対応した強度分布を複数種類の波長の照射光について測定する手順と、所定の演算定数の値を仮定して複数種類の波長の照射光による散乱光の強度分布からその波長に対応する粒度分布を演算し、それらの波長に対応する粒度分布の一致性を評価するとともに前記演算定数の値を変更することにより前記演算定数の値を決定する手順とを有する粒度分布測定方法。

IPC (2件)：

G01N 15/02 , G01N 21/47

FI (2件)：

G01N 15/02 A , G01N 21/47 A

Fターム (23件)：

2G059AA05 , 2G059BB01 , 2G059BB04 , 2G059CC19 , 2G059CC20 , 2G059DD12 , 2G059EE02 , 2G059EE09 , 2G059EE11 , 2G059GG01 , 2G059GG02 , 2G059GG07 , 2G059GG10 , 2G059JJ02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ22 , 2G059KK03 , 2G059MM01 , 2G059MM03 , 2G059MM05 , 2G059MM09 , 2G059MM10 , 2G059PP04

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