特許
J-GLOBAL ID：200903083294236986
計測用抵抗器およびその製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大塚 康徳 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-187786
公開番号（公開出願番号）：特開平6-036901
出願日： 1992年07月15日
公開日（公表日）： 1994年02月10日
要約：
【要約】【目的】 4端子構造の計測用低抵抗角チツプ抵抗器を提供する。【構成】 所定サイズの絶縁基板10の一方の面に、所定サイズの抵抗体30を形成し、抵抗体30の両端部近傍にそれぞれ重畳するように、2つの電極部20,21を形成する。また、絶縁基板10の他方の面に4つの端子部を形成する。絶縁基板10の端面に形成した4つの導体部によつて、所定の電極部と所定の端子部とを電気的に接続する。
請求項（抜粋）：
所定サイズの絶縁基板に形成された計測用抵抗器であつて、前記絶縁基板の一方の面に形成した所定サイズの抵抗体層と、前記抵抗体層の両端部近傍にそれぞれ重畳するように形成した少なくとも2つの電極部と、前記絶縁基板の他方の面に形成した少なくとも4つの端子部と、前記絶縁基板の前記抵抗体層を形成した面と略直交する少なくとも1つの端面に形成した前記端子部のそれぞれに対応する少なくとも4つの導体部とを備え、前記導体部によつて所定の前記電極部と所定の前記端子部とを電気的に接続することを特徴とする計測用抵抗器。
IPC (2件)：
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