特許
J-GLOBAL ID：200903083321512028
分光分析用試料台の試料整列装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-029539
公開番号（公開出願番号）：特開平6-241985
出願日： 1993年02月19日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：
【要約】【目的】 粒状試料を収容するための多数の凹部と、それら凹部に各別に連通する光通過口を有する分光分析用試料台において、凹部に対して粒状試料が一定姿勢でかつ所定位置に収まる確率を高くして、分光分析の測定精度を向上する。【構成】 粒状試料9を収容するための多数の凹部10と、それら凹部10に各別に連通する光通過口11を有する分光分析用試料台1の試料整列装置を形成するに、分光分析用試料台1を振動させる加振手段4aを設け、加振手段4aにより振動された分光分析用試料台1の光通過口11から凹部10内の空気を吸引する吸気手段4bを設ける。
請求項（抜粋）：
粒状試料(9)を収容するための多数の凹部(10)と、それら凹部(10)に各別に連通する光通過口(11)を有する分光分析用試料台(1)の試料整列装置であって、前記分光分析用試料台(1)を振動させる加振手段(4a)を設け、前記加振手段(4a)により振動された前記分光分析用試料台(1)の前記光通過口(11)から前記凹部(10)内の空気を吸引する吸気手段(4b)を設けてある分光分析用試料台の試料整列装置。
IPC (4件)：
G01N 21/01
, G01N 21/27
, G01N 21/59
, G01N 1/04
