特許

J-GLOBAL ID：200903083337144045

防かび性能試験法

発明者： 上松 靖 ,  東儀 彰子 ,  中川 道也
出願人/特許権者： 積水化学工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-242741
公開番号（公開出願番号）：特開平7-095896
出願日： 1993年09月29日
公開日（公表日）： 1995年04月11日
要約：

【要約】【目的】 基材の防かび性能試験をするにあたって、その判定時間を短縮し、しかも正確に判定する技術を提供する。【構成】 基材に、一定量のかびを植菌した後、温度5〜40°C、湿度30〜100%で1週間培養し、撮像装置によって画像処理して両者の処理画像の面積の増加率を求めることによる、又は、生育したかびの細胞内アデノシン三リン酸の量を測定することによる防かび性能試験法。

請求項（抜粋）：

平板状基材に、一定量のかびを植菌した後、撮像装置によって画像処理し、しかる後該平板状基材を温度5〜40°C、湿度30〜100%で1週間培養し、その後再度撮像装置によって画像処理し、両者の処理画像の面積の増加率を求めることにより該平板状基材の防かび性能を判定することを特徴とする防かび性能試験法。

IPC (3件)：

C12Q 1/18 ,  G01N 33/48 ,  C12R 1:645