特許
J-GLOBAL ID：200903083355661200
不正電子部品検出装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
足立 勉 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-401914
公開番号（公開出願番号）：特開2002-200302
出願日： 2000年12月28日
公開日（公表日）： 2002年07月16日
要約：
【要約】【課題】 ROMなどの電子部品が交換されたことを検出可能な不正電子部品検出装置を提供すること。【解決手段】 IC1の外装表面には、導電部3がプリントされている。導電部3は、IC1に付与された6ビットの識別コードのOFFビットを表す位置に形成されており、導電部3と接続されているか否かに応じて、6本ある各信号線5には異なる電位が現れる。チェック装置13は、6本の信号線5に現れる電位に基づいて、IC1に付与された識別コードを読み取り、チェック装置13が内蔵するEEPROMに記憶された照合用の識別コードと比較し、両者が一致する場合にはIC1が交換されていないと判断する一方、両者が一致しない場合にはIC1が交換されたと判断して、警報ブザー21および停止制御手段23に対して異常検出信号を出力する。
請求項（抜粋）：
遊技機に装着された電子部品が不正に交換されたことを検出可能な不正電子部品検出装置であって、個々の電子部品に付与された識別コードを読み取り可能な識別コード読取手段と、照合用の識別コードを記憶する識別コード記憶手段と、前記識別コード読取手段によって読み取った識別コードと、前記識別コード記憶手段に記憶された照合用の識別コードとを比較して、前記電子部品が交換されたか否かを判定する判定手段とを備えたことを特徴とする不正電子部品検出装置。
IPC (2件)：
A63F 7/02 326
, A63F 7/02 334
A63F 7/02 326 Z
, A63F 7/02 334
