特許
J-GLOBAL ID：200903083361348786

欠陥画素補正装置

発明者：
大野 義典

大野 義典 について


出願人/特許権者：
オリンパス光学工業株式会社

オリンパス光学工業株式会社 について


代理人 (1件)： 最上 健治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-307367
公開番号（公開出願番号）：特開2003-116060
出願日： 2001年10月03日
公開日（公表日）： 2003年04月18日
要約：
【要約】【課題】 複雑なエッジ構造や連続した欠陥画素がある場合においても、正確な補正が可能な欠陥画素補正装置を提供する。【解決手段】 CCD102 で撮影された画像信号をA/D変換器103 によりデジタル化して画像用バッファ104 上に記録し、欠陥位置記録ROM205 上に記録されている欠陥画素の位置情報に基づき、所定サイズの周囲画素を入出力制御部200 によってラインバッファ201 に取り込み、指標値算出部202 で所定方向における複数の指標値から統合された指標値を求め、方向算出部203 で相関が最大となる方向を求め、補正値算出部204 で前記相関のある方向に属する周囲画素を用いて欠陥画素の補正値を算出する。
請求項（抜粋）：
固体撮像素子の欠陥画素を補正する欠陥画素補正装置において、前記欠陥画素の位置情報を記憶する欠陥記憶手段と、該欠陥記憶手段に記憶されている前記位置情報に基づき欠陥画素の周囲画素を取り込む画素取り込み手段と、該画素取り込み手段で取り込まれた前記周囲画素において所定方向に関する複数のエッジ強度指標値から統合された指標値を算出する指標値算出手段と、該指標値算出手段で算出された前記統合された指標値に基づき相関が最大となる方向を算出する方向算出手段と、該方向算出手段で算出された前記方向に基づき選択された周囲画素から前記欠陥画素の補正値を算出する補正値算出手段とを備えていることを特徴とする欠陥画素補正装置。
IPC (2件)：
H04N 5/335 ,  H04N 9/07
FI (2件)：
H04N 5/335 P ,  H04N 9/07 A
Fターム (18件)：
5C024CX23 ,  5C024EX51 ,  5C024EX52 ,  5C024GY01 ,  5C024HX14 ,  5C024HX23 ,  5C024HX28 ,  5C024HX29 ,  5C024HX57 ,  5C065BB23 ,  5C065CC01 ,  5C065DD02 ,  5C065EE03 ,  5C065GG13 ,  5C065GG18 ,  5C065GG21 ,  5C065GG22 ,  5C065GG31
引用特許：
審査官引用 (6件)
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