特許

J-GLOBAL ID：200903083407979417

γフォトン検出場におけるスペクトル測定の補正のための方法およびデバイス

発明者： ローイック・ヴェルジェ ,  ジャン-ポール・ボンフォア-クロード ,  フランソワーズ・マティ
出願人/特許権者： コミツサリア タ レネルジー アトミーク
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-243873
公開番号（公開出願番号）：特開平9-127249
出願日： 1996年09月13日
公開日（公表日）： 1997年05月16日
要約：

【要約】【課題】 従来の強度-立ち上がり時間の相関性を利用した補正方法においては、半導体結晶の質に依存するという問題があった。【解決手段】 γフォトンの半導体材料に対する相互作用に応じて半導体検出器52により出力される信号の時間変化を代理する信号またはデータセットを使用するための方法であって、検出器52により出力される信号の電子成分、すなわち、信号全体にうちの一成分であって各γフォトンの半導体材料に対する相互作用に起因する電子の収集に対応する成分、の立ち上がり時間を代理する信号またはデータを作る。

請求項（抜粋）：

γフォトン(8)の半導体材料(2)に対する相互作用に応じて半導体検出器(52)により出力される信号の時間変化を代理する信号またはデータセットを使用するための方法であって、前記検出器により出力される信号の電子成分、すなわち、信号全体にうちの一成分であって各γフォトンの前記半導体材料に対する相互作用に起因する電子の収集に対応する成分、の立ち上がり時間を代理する信号またはデータを作ることを特徴とする方法。

IPC (3件)：

G01T 1/24 ,  H01L 31/09 ,  H01L 31/10

FI (3件)：

G01T 1/24 ,  H01L 31/00 A ,  H01L 31/10 G

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭61-014590
  
• 特開昭61-014591