特許

J-GLOBAL ID：200903083428120980

画像認識装置における直線検出方法並びに該検出方法を利用した入力画像及び物品の検査方法

発明者： 中村 弘
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 佐野 静夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-258741
公開番号（公開出願番号）：特開平11-096371
出願日： 1997年09月24日
公開日（公表日）： 1999年04月09日
要約：

【要約】【課題】 画像認識装置において入力画像中の二次元図形から直線を精度良く検出する方法を提供する。【解決手段】 二値画像に変換された入力画像の所定の検出範囲から、該検出範囲内の二次元図形に含まれる直線部分を規定するための点の候補となる多数の候補点の座標を求めるステップと、各候補点についてハフ変換を行い、ハフ平面上での交点から粗近似直線f1を求めるステップと、粗近似直線と各候補点との距離d1〜dnを求めるステップと、得られた距離をその値の大きさの順に並べ変え、中央値または中央付近値と、その前後の所定個数の近傍値との平均値DMを求めるステップと、該平均値と各距離との差の絶対値を求め、該絶対値が所定の基準値を超える候補点を候補点群から除外するステップと、残った候補点の座標から近似直線f2を求めるステップと、を含むことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

入力画像の所定の検出範囲から、該検出範囲内の二次元図形に含まれる直線部分を規定するための点の候補となる多数の候補点の座標を濃淡エッジ計測によって求めるステップと、前記各候補点についてハフ変換を行い、ハフ平面上での交点から粗近似直線を求めるステップと、前記粗近似直線と前記各候補点との距離を求めるステップと、得られた距離をその値の大きさの順に並べ変え、中央値または中央付近値と、その前後の所定個数の近傍値との平均値を求めるステップと、該平均値と前記各距離との差の絶対値を求め、該絶対値が所定の基準値を超える候補点を候補点群から除外するステップと、残った候補点の座標から近似直線を求めるステップと、を含むことを特徴とする画像認識装置における直線検出方法。

FI (2件)：

G06F 15/70 330 G ,  G06F 15/70 330 F