特許

J-GLOBAL ID：200903083484082152

エッジ検出方法

発明者： 安本 雅昭
出願人/特許権者： 株式会社不二越
代理人 (1件)： 河内 潤二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-190747
公開番号（公開出願番号）：特開2002-008047
出願日： 2000年06月26日
公開日（公表日）： 2002年01月11日
要約：

【要約】【課題】 エッジ部近傍の微分値分布が急峻である場合だけでなく、ピントが外れたりエッジ部近傍の微分値分布がなだらかな場合でも、撮影された濃淡画像に含まれるエッジ位置を、切り替え処理のない1つの画像処理シーケンスにより、正確かつ安定して検出する方法を提供する。【解決手段】 CCDカメラにより撮影した被測定物の濃淡画像から被測定物のエッジ位置を検出する方法において、濃淡画像に対して微分処理を施すことにより微分画像を作成し、この微分画像上を走査し、走査された画素の微分値の中から最も値の大きいものを抽出し、この最大の微分値を有する画素の位置をピーク位置とし、このピーク位置の近傍の微分画像に対して非線形演算を行い、この非線形演算により得られた分布曲線に対して近似曲線とのマッチング処理を施すことにより被測定物のエッジ位置を算出する。

請求項（抜粋）：

CCDカメラにより撮影した被測定物の濃淡画像から被測定物のエッジ位置を検出する方法において、前記濃淡画像に対して微分処理を施すことにより微分画像を作成し、該微分画像上を走査し、走査された画素の微分値の中から最も値の大きいものを抽出し、この最大の微分値を有する画素の位置をピーク位置とし、該ピーク位置の近傍の微分画像に対して非線形演算を行い、該非線形演算により得られた分布曲線に対して近似曲線とのマッチング処理を施すことにより被測定物のエッジ位置を算出することを特徴とするエッジ検出方法。

IPC (2件)：

G06T 7/60 250 ,  G06T 1/00 280

FI (2件)：

G06T 7/60 250 A ,  G06T 1/00 280

Fターム (17件)：

5B057BA02 ,  5B057CD11 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB05 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC19 ,  5B057DC22 ,  5L096AA03 ,  5L096AA06 ,  5L096CA02 ,  5L096CA14 ,  5L096DA02 ,  5L096FA06 ,  5L096FA14 ,  5L096GA03