特許

J-GLOBAL ID：200903083507489590

電気二重層コンデンサの劣化検出方法

発明者： 岡村 廸夫 ,  森本 剛 ,  平塚 和也
出願人/特許権者： 株式会社岡村研究所 ,  エルナー株式会社 ,  旭硝子株式会社
代理人 (1件)： 大原 拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-156106
公開番号（公開出願番号）：特開平6-342024
出願日： 1993年06月02日
公開日（公表日）： 1994年12月13日
要約：

【要約】【目的】 電気二重層コンデンサの劣化を初期段階で鋭敏かつ正確に検出する。【構成】 測定信号源10から電気二重層コンデンサC1に対して、測定信号として例えば低周波の方形波信号を加えるとともに、その応答信号の所定部分を積分し、その積分値に基づいて特性変化を検出する。

請求項（抜粋）：

測定信号源から電気二重層コンデンサに対して、その測定信号として方形波などの直線波形成分からなる定電流波形信号を加えるとともに、同電気二重層コンデンサで発生する電圧降下による応答信号を積分し、その積分値に基づいて特性変化を検出することを特徴とする電気二重層コンデンサの劣化検出方法。

IPC (2件)：

G01R 31/00 ,  H01G 9/00 301

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-190318
  
• 特開平4-215415
  
• 特開平4-323260