特許

J-GLOBAL ID：200903083529888323

導電性材料の非破壊検査方法および装置

発明者： 葛西 直子 ,  大西 勝 ,  原口 憲次郎 ,  神谷 祥二
出願人/特許権者： 工業技術院長 ,  川崎重工業株式会社
代理人 (2件)： 工業技術院電子技術総合研究所長 (外1名) ,  関 正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-206668
公開番号（公開出願番号）：特開平10-038854
出願日： 1996年07月17日
公開日（公表日）： 1998年02月13日
要約：

【要約】【課題】 導電性材料中の微小な傷や欠陥を環境磁気雑音の存在に拘わらず高感度で検出することができる磁束検出型の非破壊検査方法および装置。【解決手段】 導電性材料の被検体16に並行に密着して戻りの電気回路11を設け、被検体と戻り回路の間を絶縁し、被検体と戻り回路に互いに逆の方向に同じ強さの電流を流し、このとき外部に発生する磁場の分布を測定し、被検体内の電流路異常を検出して解析することにより欠陥等を検出する。

請求項（抜粋）：

被検体に並行に密着して電気回路を設け、該被検体と該電気回路の間を絶縁し、該被検体と該電気回路に逆方向に同じ電流を流して、外部に発生する磁場の分布を測定することにより、被検体の電流路異常を検出することを特徴とする導電体材料の非破壊検査方法。