特許

J-GLOBAL ID：200903083530716455

走査光学系検査装置

発明者： 高田 将人 ,  上条 直裕
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-128022
公開番号（公開出願番号）：特開2001-311899
出願日： 2000年04月27日
公開日（公表日）： 2001年11月09日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、画像形成などするレーザービームの走査精度を検査する走査光学系検査装置に関し、受光素子の移動位置や走査速度に対する相対速度・相対加速度による影響をなくして、レーザービームによる照射スポットの形状や位置等の特性を正確に検査可能にすることを目的とする。【解決手段】 回転多面鏡102の走査するLD101からのレーザービームRを受光面11aで受光するように主走査方向に走行移動される受光素子11と、この受光素子11の移動位置を実測する離隔距離測定器12と、受光面11aにより検出されたレーザービームRの照射スポットの位置や形状などを受光素子11の移動位置に基づいて補正してモニター14に映像出力するホストコンピュータ13と、を備える。

請求項（抜粋）：

画像形成装置に搭載されて感光体表面に光源からの出射光を走査する光学系の該出射光の走査精度を検査する装置であって、前記出射光を受光する受光面を有して該受光面内における該出射光の照射を検出する受光素子と、該受光素子を感光体表面に対応する位置に保持しつつ出射光の照射位置に移動させる素子移動手段と、該移動手段により移動される受光素子の実際の位置を検出する位置検出手段と、受光素子により検出された出射光の照射の検査結果を出力する検査出力手段と、を備えることを特徴とする走査光学系検査装置。

IPC (2件)：

G02B 26/10 ,  B41J 2/44

FI (2件)：

G02B 26/10 Z ,  B41J 3/00 D

Fターム (6件)：

2C362AA20 ,  2C362AA26 ,  2C362AA40 ,  2C362AA52 ,  2H045AA01 ,  2H045DA46