特許
J-GLOBAL ID:200903083544672604

薄板保持装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 尾川 秀昭
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-230735
公開番号(公開出願番号):特開平10-076439
出願日: 1996年08月30日
公開日(公表日): 1998年03月24日
要約:
【要約】【課題】 半導体ウェハ1の表面の面内の高さの均一性を高める。【解決手段】 複数のブロック状真空吸着ステージ3を弾性のあるステージベース4上に配設したチャックテーブル2と、上記各真空吸着ステージ3に対応して設けられ、互いに独立して上下動して上記ステージベース3を裏面から押す複数の微少変位調整ユニット13を微少変位調整ベース12上に配設した微少変位調整テーブル11と、を有する。
請求項(抜粋):
複数のブロック状の真空吸着ステージを弾性のあるステージベース上に配設したチャックテーブルと、上記各真空吸着ステージに対応して設けられ、互いに独立して高さを変化せしめられて上記ステージベースを裏面から押す複数の微少変位調整ユニットを微少変位調整ベース上に配設した微少変位調整テーブルと、を有することを特徴とする薄板保持装置
IPC (3件):
B23Q 3/08 ,  H01L 21/304 321 ,  H01L 21/68
FI (3件):
B23Q 3/08 A ,  H01L 21/304 321 H ,  H01L 21/68 P

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