特許
J-GLOBAL ID：200903083545934505
配線基板の検査方法およびその装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
朝日奈 宗太 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-040252
公開番号（公開出願番号）：特開平6-249903
出願日： 1993年03月01日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：
【要約】【目的】 配線パターンが形成され、基板の周縁部に規則的に電極端子が設けられた配線基板の各配線パターンの断線や配線パターン間のショート、実装された部品の異常などを短時間に簡単に検査できる方法および装置を提供する。【構成】 配線パターンの電極端子が規則的に配列された基板の検査装置であって、検査用信号発生部10から検査用信号が入力された各電極パッドを1本の走査針71からなる電極端子信号検出部60によって各電極端子の信号を順次検出し、該検出信号と基準電圧とをコンパレータ部30で比較し、信号処理部40で該コンパレータ部30の出力と前記検査用信号発生部10とを比較して不良の電極端子を特定する。
請求項（抜粋）：
電極端子が規則的に配列された配線基板の配線パターンおよび該配線パターン間の接続関係の良否を検査する配線基板の検査方法であって、前記配線パターンに検査用信号を印加すると共に、前記電極端子の各々の信号を1本の走査針で順次検出し、前記各電極端子ごとに検出された信号と前記検査用信号とを比較して基準値以上の差がある電極端子ごとに不良の表示をすることを特徴とする配線基板の検査方法。
引用特許：
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