特許

J-GLOBAL ID：200903083605952605

光伝送特性測定装置

発明者： 後藤 寛 ,  園部 洋治
出願人/特許権者： アンリツ株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-247809
公開番号（公開出願番号）：特開平5-087674
出願日： 1991年09月26日
公開日（公表日）： 1993年04月06日
要約：

【要約】【目的】 可変波長光源から出力されたレーザ光を被測定体に入射し、この被測定体を経由したレーザ光を被測定光としてスペクトラム解析部で波長分析を行う光伝送特性測定装置において、可変波長光源におけるレーザ光の出力波長とスペクトラム解析部における測定波長との間の同期精度を向上させる。【構成】 可変波長光源から出力されるレーザ光の波長を変化させるための回折格子と、スペクトラム解析部における被測定光を分光するための回折格子とを同一回転軸回りに回動させる回動機構を設けている。また、回動アームに各回折格子を互いに離間して取付け、分光用の回折格子を回動中心にこの回動アームを回動することによって、一つの回動機構でもって、各回折格子における入射光の入射角と共振距離とを同時に変更する。

請求項（抜粋）：

半導体レーザ(32)の一方から出力されたレーザ光(31a) を波長選択用の回折格子(34)でもって反射させ、この波長選択用回折格子から前記半導体レーザまでの共振距離(L) および前記波長選択用回折格子に対する前記レーザ光の入射角度(θ1 )を変化させることによって、前記半導体レーザの他方から出力されるレーザ光(31)の波長(λ1 )を可変制御する外部共振器型可変波長光源(29)と、この可変波長光源から出力されるレーザ光を被測定体(26)を介して被測定光(38)として取込み、取込まれた被測定光を分光用の回折格子(35)を用いて波長分析することにより前記被測定体の光伝送特性を測定するスペクトラム解析部(28)とからなる光伝送特性測定装置において、前記波長選択用回折格子と分光用回折格子とを同一回動軸回りに回動させる回動機構(36,37,48,49,50)を備えたことを特徴とする光伝送特性測定装置。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G01J 3/06