特許
J-GLOBAL ID:200903083644816654
画質評価装置及び画質評価方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
田澤 博昭 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-314001
公開番号(公開出願番号):特開2001-133362
出願日: 1999年11月04日
公開日(公表日): 2001年05月18日
要約:
【要約】【課題】 輝度や色度のむらを評価することができるが、画質は様々な要因により影響されるため、単にむらだけを評価しても画質を客観的に評価することができないなどの課題があった。【解決手段】 測光部3aの測定結果から階調再現性,色再現性,鮮鋭性及び粒状性の評価値を演算し、各評価値から画質を総合的に評価する。
請求項(抜粋):
テストパターンをモニターに表示させるテストパターン発生手段と、上記モニターがテストパターンを表示する際に発する光を測定する測定手段と、上記測定手段の測定結果から種類が異なる複数の再現性の評価値を演算する演算手段と、上記演算手段により演算された複数の再現性の評価値から画質を総合的に評価する評価手段とを備えた画質評価装置。
IPC (4件):
G01M 11/00
, G09G 1/00
, G09G 5/00
, H04N 17/04
FI (5件):
G01M 11/00 T
, G09G 1/00 X
, G09G 5/00 X
, H04N 17/04 A
, H04N 17/04 D
Fターム (14件):
2G086EE12
, 5C061BB02
, 5C061BB03
, 5C061BB05
, 5C061CC05
, 5C082AA12
, 5C082AA27
, 5C082BA12
, 5C082BA34
, 5C082CA81
, 5C082CB05
, 5C082DA86
, 5C082EA20
, 5C082MM10
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