特許

J-GLOBAL ID：200903083646771496

測定システム

発明者： 那須 英輔 ,  荒川 智
出願人/特許権者： 電気化学計器株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-196792
公開番号（公開出願番号）：特開2000-009637
出願日： 1998年06月26日
公開日（公表日）： 2000年01月14日
要約：

【要約】【課題】 本発明は、測定手段のデータから検量式を用いて試料に係る目的変数を求める測定システムにおいて、試料の供給条件が変更された場合に、新たに測定する試料に対応できる新検量式を迅速に作成できる測定システムを提供する。【解決手段】 ブレンド装置7に導入される試料が基材Aと基材Bとから、基材Cと基材Dとに切り替えられたとき、測定手段1に導入される試料が基材Aと基材Bとをブレンドしたものから、基材Cと基材Dとをブレンドしたものへと変化する過程中に得られる測定手段1のデータと、その時の測定手段2のデータの組み合わせを、従前の検量式を作成するために使用されたデータの集合に追加し、追加後の集合を用いて変更後の試料に対応可能な新検量式を作成する。この新検量式を用いて測定手段1のデータから目的変数を求める。

請求項（抜粋）：

説明変数である間接測定手段のデータと目的変数との関係を示す検量式に基づいて間接測定手段のデータから目的変数を求める測定システムにおいて、間接測定手段に連続的又は間欠的に導入される試料の性状が、試料の供給条件の変更によって変化する変化過程中に、その時得られる間接測定手段のデータと目的変数との組み合わせを、従前の検量式を作成するために使用された間接測定手段のデータと目的変数との組み合わせの集合に追加し、追加後の間接測定手段のデータと目的変数との組み合わせの集合を用いて新検量式を作成することを特徴とする測定システム。

IPC (3件)：

G01N 21/27 ,  G01N 21/35 ,  G01N 33/22

FI (3件)：

G01N 21/27 F ,  G01N 21/35 Z ,  G01N 33/22 B

Fターム (12件)：

2G059AA03 ,  2G059BB04 ,  2G059BB20 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059KK10 ,  2G059MM01 ,  2G059MM04 ,  2G059MM12 ,  2G059MM20