特許
J-GLOBAL ID：200903083669825682
物品表面汚染モニタ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-245569
公開番号（公開出願番号）：特開平11-084012
出願日： 1997年09月10日
公開日（公表日）： 1999年03月26日
要約：
【要約】【課題】 物品汚染有りの場合においても、次の物品の汚染測定作業を妨げること無く、スムーズな流れで連続した測定を実現する。【解決手段】 モニタ本体部1の入口21から当該モニタ本体部に搬入された物品がその出口23から出口コンベア4上に搬出され、さらにその搬出された物品を出口コンベアにより物品取出配置機構10まで搬送するとともに、モニタ本体部にて物品表面の放射能汚染を測定する(6,7,8)物品表面汚染モニタであって、物品取出配置機構10は、出口コンベアにて搬送される物品を、モニタ本体部での放射能汚染の測定結果が汚染有りの場合には汚染物品の取出位置12に、汚染無しの場合には非汚染物品の取出位置11に配置する物品表面汚染モニタ。
請求項（抜粋）：
モニタ本体部の入口から当該モニタ本体部に搬入された物品がその出口から出口コンベア上に搬出され、さらにその搬出された物品を前記出口コンベアにより物品取出配置機構まで搬送するとともに、前記モニタ本体部にて前記物品表面の放射能汚染を測定する物品表面汚染モニタであって、前記物品取出配置機構は、前記出口コンベアにて搬送される物品を、前記モニタ本体部での放射能汚染の測定結果が汚染有りの場合には汚染物品の取出位置に、汚染無しの場合には非汚染物品の取出位置に配置することを特徴とする物品表面汚染モニタ。
IPC (4件)：
G01T 1/169
, G01T 1/00
, G01T 1/167
, G01T 7/08
G01T 1/169 A
, G01T 1/00 D
, G01T 1/167 E
, G01T 7/08 Z
