特許
J-GLOBAL ID:200903083671516875
近赤外線材料濃度測定とガラスファイバのファイバブラッググレーティングによる温度プロファイル測定との機械的結合
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
鮫島 睦
, 田村 恭生
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-552552
公開番号(公開出願番号):特表2008-528983
出願日: 2006年01月17日
公開日(公表日): 2008年07月31日
要約:
本発明は、ガラスファイバのスペクトル測定による近赤外線材料濃度測定用の装置とファイバブラッググレーティング(FBG)を備えた温度測定用の装置との結合に関する。
請求項(抜粋):
FGBファイバおよび近赤外線測定セルのための少なくとも1つの光源と、測定部分を分光計に接続するための少なくとも1つの光学マルチプレクサと、少なくとも1つのFBGファイバおよび近赤外線分光測定用の少なくとも1つのガラスファイバと、干渉計と、検出器と、信号解析/制御ユニットとから成る、材料濃度を測定する近赤外線分光法と、温度および/または温度プロファイルを測定する、ファイバブラッググレーティングを備えた光ファイバによる分光法とを機械的に結合した分光装置であって、測定部分のアウトプットと検出器との間にフーリエ変換分光計を配置することを特徴とする分光装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N21/35 Z
, G01K11/12 F
Fターム (14件):
2F056VF02
, 2F056VF11
, 2G059AA01
, 2G059AA03
, 2G059DD13
, 2G059EE10
, 2G059EE12
, 2G059FF04
, 2G059GG01
, 2G059HH01
, 2G059JJ11
, 2G059JJ22
, 2G059MM01
, 2G059MM14
引用特許: