特許
J-GLOBAL ID:200903083694701785
GaN系半導体の成長方法およびGaN系半導体成長用基板
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉浦 正知
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-024451
公開番号(公開出願番号):特開平11-224856
出願日: 1998年02月05日
公開日(公表日): 1999年08月17日
要約:
【要約】【課題】 良質の単結晶のGaN系半導体を成長させることができるGaN系半導体の成長方法およびGaN系半導体成長用基板を提供する。【解決手段】 少なくとも表面がMoS2 からなる基板1を用い、その上に分子線エピタキシー法などによりGaN系半導体3を成長させる。好ましくは、GaN系半導体3の成長温度より低い温度でまずGaN系半導体からなるバッファ層2を成長させた後、その上にGaN系半導体3を成長させる。GaN系半導体3またはバッファ層2を成長させる場合にはそのバッファ層2の成長時の原料の供給は、Ga原料の供給から開始する。
請求項(抜粋):
少なくとも表面が層状物質からなる基板上にGaN系半導体を成長させるようにしたことを特徴とするGaN系半導体の成長方法。
IPC (3件):
H01L 21/203
, H01L 21/205
, H01L 33/00
FI (3件):
H01L 21/203 M
, H01L 21/205
, H01L 33/00 C
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