3次元画像検出装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松浦孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-329572
公開番号（公開出願番号）：特開2001-148867
出願日： 1999年11月19日
公開日（公表日）： 2001年05月29日
要約：

【要約】【課題】測距光を照射し、被写体からの反射光を受光することにより被写体までの距離を画素毎に検出する3次元画像検出装置において、距離情報の信号レベルと被写体表面の反射率に関する反射率情報の信号レベルを合わせる。【解決手段】被写体に幅TS のパルス光を繰り返し照射し、その反射光のうち蓄積期間TU1に受光される光(斜線部A1)に関する信号電荷の和を距離情報として検出する。同一の測距光を被写体に繰り返し照射し、その反射光を蓄積期間TU2に全て受光し、受光された光(斜線部A2)に関する信号電荷の和を反射率情報として検出する。被写体を代表する1つの画素で検出される距離情報、反射率情報(斜線部A1、A2)の比からTD /TS を算出する。反射率情報の検出で繰り返し照射される測距光の照射回数を距離情報を検出するときのTD /TSにし、距離情報、反射率情報に対応する信号電荷の和を等しくする。

請求項（抜粋）：

被写体に測距光を照射し、前記被写体からの反射光を撮像部において所定の蓄積期間内に受光し、これによって生じる第1の信号電荷を各画素毎に蓄積する第1の電荷蓄積手段と、前記第1の電荷蓄積手段をN回繰り返し駆動し、各駆動において蓄積される前記第1の信号電荷を前記各画素毎に積分することにより第1の積分電荷を蓄積する第1の信号電荷積分手段と、前記被写体に測距光を照射し、前記被写体からの反射光を前記撮像部において受光することにより、受光された前記反射光の全光量に対応する第2の信号電荷を前記各画素毎に蓄積する第2の電荷蓄積手段と、前記第2の電荷蓄積手段をM回繰り返し駆動し、各駆動において蓄積される前記第2の信号電荷を前記各画素毎に積分することにより第2の積分電荷を蓄積する第2の信号電荷積分手段と、前記第1の積分電荷と前記第2の積分電荷とが、前記被写体の被計測領域に対応する画素において略同じ大きさとなるように前記第1の信号電荷積分手段における繰り返し回数または前記第2の信号電荷積分手段における繰り返し回数を調整する繰返回数調整手段とを備え、前記第1の積分電荷と前記第2の積分電荷とに基づいて前記被写体までの距離が前記各画素毎に検出されることを特徴とする3次元画像検出装置。

IPC (6件)：

H04N 13/02 , G01B 11/00 , G01C 3/06 , G02B 7/28 , G02B 7/40 , H04N 5/335

FI (6件)：

H04N 13/02 , G01B 11/00 H , G01C 3/06 Z , H04N 5/335 P , G02B 7/11 N , G02B 7/11 F

Fターム (60件)：

2F065AA04 , 2F065AA06 , 2F065AA53 , 2F065BB05 , 2F065DD03 , 2F065DD04 , 2F065EE05 , 2F065FF12 , 2F065FF32 , 2F065GG04 , 2F065HH04 , 2F065JJ00 , 2F065JJ03 , 2F065JJ18 , 2F065JJ26 , 2F065NN12 , 2F065QQ00 , 2F065QQ03 , 2F065QQ14 , 2F065QQ24 , 2F065QQ34 , 2F065QQ51 , 2F065SS13 , 2F112AD01 , 2F112BA06 , 2F112BA07 , 2F112CA08 , 2F112CA12 , 2F112DA25 , 2F112DA28 , 2F112EA03 , 2F112FA03 , 2F112FA07 , 2F112FA21 , 2F112FA29 , 2F112FA33 , 2F112FA45 , 2H051AA00 , 2H051BB27 , 2H051CC02 , 2H051CE01 , 2H051CE06 , 2H051CE14 , 2H051EB20 , 5C024AA00 , 5C024CA00 , 5C024CA17 , 5C024DA06 , 5C024FA01 , 5C024GA16 , 5C024GA43 , 5C024GA48 , 5C024HA20 , 5C024HA21 , 5C024JA07 , 5C061AA29 , 5C061AB03 , 5C061AB06 , 5C061AB08 , 5C061AB12

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