特許
J-GLOBAL ID：200903083710285134
溶存ガス濃度測定方法および溶存ガス濃度測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-045583
公開番号（公開出願番号）：特開平6-258269
出願日： 1993年03月08日
公開日（公表日）： 1994年09月16日
要約：
【要約】【目的】試料液中の溶存ガス濃度の測定のため、溶存ガスを気相に移行させて半導体式ガスセンサで測定する際、試料液の液温による温度補償を施して測定する分析方法およびその装置を提供する。【構成】測定における試料液の温度の影響を、溶存ガスの液相から気相への抽出率に関する項と半導体式ガスセンサの出力感度に関する項に分け、それぞれの項の温度補償関数のパラメータ定数を、校正液の試験によって求める演算処理プログラムと、求めたパラメータ定数を用いて半導体式ガスセンサの出力に対し温度補償を行う演算処理プログラムを格納した演算処理装置16を設け、この演算処理装置へ抽出槽7に設けられた温度検出端20が検出した試料液の温度値と、検出部13で検出された半導体式ガスセンサの出力を入力し温度補償された溶存ガス濃度を算出する。
請求項（抜粋）：
試料液中に溶存するガス成分を抽出槽において気相に移行させ、気相部に設置された半導体式ガスセンサの出力によって、前記試料液中の溶存ガス成分の濃度を測定する溶存ガス濃度測定法において、前記抽出槽の試料液温度を測定し、前記ガスセンサの出力に対する試料液相から気相に移行する溶存ガス成分の割合と、ガスセンサ出力に対する湿度の影響を、濃度と温度が既知の試料液を用いて求めた試料液の温度とガスセンサの出力の間に成立する関数関係で補正し、半導体式ガスセンサの出力値と試料液温度測定値とから、溶存ガス濃度を算出することを特徴とする溶存ガス濃度測定方法。
IPC (2件)：
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