特許
J-GLOBAL ID：200903083748679659
イオントラップ型質量分析方法及び質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-175544
公開番号（公開出願番号）：特開2001-351571
出願日： 2000年06月07日
公開日（公表日）： 2001年12月21日
要約：
【要約】【課題】イオントラップ内で、試料あるいは試薬ガスを電子衝撃イオン化(EI)等によりイオン化する際に、大量に生成されるイオンをイオントラップ電極間空間から排除し、極微量にしか生成されない負イオンを優先的に捕捉し、高感度に分析可能な、内部イオン化型のイオントラップによる質量分析法ならびにその装置を提供する。【解決手段】イオントラップ内で、試料あるいは試薬ガスを電子衝撃イオン化(EI)等によりイオン化するイオン化期間に、イオントラップ電極間に、高周波電界の他に、静電界を重畳印加して、イオン化と同時にイオントラップ電極間空間から正イオンを不安定化して排除し、極微量にしか生成されない負イオンを優先的に捕捉して、質量分析する。
請求項（抜粋）：
環状のリング電極と、該リング電極を挟むように対向して配置された二つのエンドキャップ電極と、前記リング電極と前記エンドキャップ電極間に形成される電極間空間に高周波電界を生成するように前記リング電極と前記エンドキャップ電極間に与える高周波電圧を発生する高周波電源と、前記リング電極と前記エンドキャップ電極間の電極間空間内にイオンを生成する内部イオン化手段と、その生成されたイオンを、前記高周波電界が生成される前記電極間空間に捕捉する手段と、前記電極間空間に捕捉されるイオンに対して、その質量対電荷比に応じて順次に質量分離し、電極間空間から出射させ、それを検出する検出装置と、前記電極間空間に前記高周波電界の他に直流電界を重畳印加する印加装置とを有するイオントラップ型質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01J 49/42
, G01N 27/62 L
5C038JJ06
, 5C038JJ07
, 5C038JJ11
