特許
J-GLOBAL ID：200903083750975419
液晶マトリックス表示パネルの検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-092276
公開番号（公開出願番号）：特開平9-138418
出願日： 1996年04月15日
公開日（公表日）： 1997年05月27日
要約：
【要約】【課題】 液晶マトリックス表示パネルの製造過程で行われる検査方法において、COG法を採用する表示パネルに対応でき、基板の無駄なスペースをなくし、検査精度、検査効率に優れた検査方法を提供する。【解決手段】 多数個の表示パネルが連結されている状態で表示パネルのシール部と重畳する位置に設ける信号側検査電極及び走査側検査電極をそれぞれ直列に接続して信号側共通検査電極及び走査側共通検査電極としたうえで、この両共通検査電極の間に検査電圧を印加して多数個の表示パネルの断線欠陥を一括して同時に検査し、更に一方の検査電極に集結している複数の電極配線における結線を一本置きにレーザー光線を用いて切断した後、短絡欠陥を一括して同時に検査することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
行又は列の一方の方向に延伸する複数の一方の電極配線を有する画素基板と、他方の方向に延伸する複数の他方の電極配線を有する対向基板と、前記画素基板と前記対向基板からなる一対の基板の間に狭持されている液晶層と、この液晶層を封止しているシール部とからなる液晶マトリックス表示パネルの多数個を、それぞれの前記一対の基板が一方の方向に連結されている多数連結状態で断線欠陥及び短絡欠陥を検査する方法であって、前記複数の一方の電極配線及び前記複数の他方の電極配線を表示パネルごとに、それぞれ一方の検査電極及び他方の検査電極に結線して集結し、前記多数個の表示パネルにおける前記一方の検査電極及び前記他方の検査電極を、それぞれ直列に接続して一方の共通検査電極及び他方の共通検査電極としたうえで、この両共通検査電極の間に所定の検査電圧を印加して多数個の表示パネルの断線欠陥を一括して同時に検査し、次いで少なくともいずれか一方の検査電極に集結している複数の電極配線における結線を、レーザー光線を用いて配線を切断することにより一本置きに解除したのち、両共通検査電極の間に所定の検査電圧を印加して短絡欠陥を検査することを特徴とする液晶マトリックス表示パネルの検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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