特許
J-GLOBAL ID：200903083753554562
光サンプリング波形測定装置
出願人/特許権者：
株式会社テラテック
株式会社テラテック について
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-005864
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197350
出願日： 1997年01月16日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：
【要約】【課題】 偏光の変動している被測定信号光であっても正確に測定でき、さらには偏光の情報をも測定することができる光サンプリング波形測定装置を提供する。【解決手段】 被測定光信号を、偏光分離器1によって第1の偏光成分光と当該第1の偏光成分光とは偏光方向が直交する第2の偏光成分光とに分離する。この第1および第2の偏光成分光の各々について、被測定光信号とは波長の異なるサンプリング光パルスと合成して非線形光学結晶5a、5bに入射させ、被測定光信号の角周波数とサンプリング光パルスの角周波数との和あるいは差の角周波数の光信号を得る。この光信号を受光器12a、12bによって電気信号に変換し、光サンプリング波形を測定する。
請求項（抜粋）：
被測定光信号を第1の偏光成分光と当該第1の偏光成分光とは偏光方向が直交する第2の偏光成分光とに分離する偏光分離手段(1)と、前記第1の偏光成分光を前記被測定光信号とは波長の異なる光パルスによってサンプリングする第1のサンプリング手段と、前記第1のサンプリング手段の出力を第1の電気信号に変換する第1の光電変換手段(12a)と、前記第2の偏光成分光を前記光パルスによってサンプリングする第2のサンプリング手段と、前記第2のサンプリング手段の出力を第2の電気信号に変換する第2の光電変換手段(12b)と、前記第1の電気信号と前記第2の電気信号とに基づいて前記被測定光信号の波形を測定ならびに表示する測定手段(13、14)とを具備することを特徴とする光サンプリング波形測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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