特許

J-GLOBAL ID：200903083779962596

粒子分析装置

発明者： 山崎 功夫 ,  都築 浩一 ,  三宅 亮
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-126212
公開番号（公開出願番号）：特開平8-320285
出願日： 1995年05月25日
公開日（公表日）： 1996年12月03日
要約：

【要約】【構成】粒子が含まれるサンプル液を、フローセルに平坦で、撮像系の焦点深度よりも厚いシースフローを形成して流す。一つの粒子に対し複数の画像を撮像し、合成した画像を形成する。【効果】厚さが厚い領域にサンプル液を流しても、鮮明な合成画像が得て分析することができるので、多量のサンプルを短時間で分析できる。

請求項（抜粋）：

粒子が含まれるサンプル液を、フローセルの中にシース液に包まれたシースフローを形成して流し、有限の焦点深度をもつ撮像系で粒子の瞬間の画像を繰り返し撮像し、画像または画像の分析結果を出力する装置において、シースフロー中のサンプル液の流れる領域の焦点深度方向の厚さを焦点深度よりも厚く流し、同一の粒子に対し、一定の方向から複数の画像を撮像した画像データを得て、画像の中の分割された領域毎にそれぞれの画像データの内1つを選択して合成した合成画像データを形成することを特徴とする粒子分析装置。

IPC (4件)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/59 ,  G01N 35/08 ,  G06T 7/00

FI (6件)：

G01N 15/14 Q ,  G01N 15/14 B ,  G01N 15/14 C ,  G01N 21/59 Z ,  G01N 35/08 D ,  G06F 15/62 395