クリープ寿命予測方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：坂本徹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-280400
公開番号（公開出願番号）：特開平7-113769
出願日： 1993年10月13日
公開日（公表日）： 1995年05月02日
要約：

【要約】【目的】クリープ損傷によって生じる結晶粒のずれ角と測定点までの距離の比を利用して精度良く初期の段階からクリープ寿命を予測することができるクリープ寿命予測方法を提供することにある。【構成】クリープ損傷を受けた被計測試料では、初期の段階から結晶粒の変形が生じてずれ角が変化するとともに、このずれ角の変位と測定点までの距離の比をとるとクリープ歪との間に一定の関係があることが実験的に得られたことから、予め既知のクリープ歪に対して同一組成の材料についてずれ角の変位と測定点までの距離の比を求めてチャートを作っておき、これと実際の被計測試料の計測結果とを比較することで、クリープ歪を求めてクリープ寿命を初期段階から知ることができるようにしている。

請求項（抜粋）：

被測定部から透過電子顕微鏡(TEM)用の試料を採取する工程と、該試料をTEMで観察し電子線の非弾性散乱によって生ずる菊池線により結晶粒内での微小領域の結晶方向を測定する工程と、試料を微小量動かして同じ結晶粒内での複数点について同様の測定を繰り返し行う工程と、それらの測定点の内の一点を基準点として選び基準点との比較において他の点の結晶のずれ角rの大きさを計算する工程と、基準にした点と測定点との距離Lを用いてr/Lの平均値を求める工程と、同様の作業を他のいくつかの結晶粒について繰り返し行いそれぞれの結晶についてr/Lの平均値を求める工程と、それらの平均値の和を測定した結晶の数で割って全体平均値を求め、それを平均粒内歪値として規定する工程と、予め求めておいた同一組成材料の既知のクリープ歪を受けた材料のクリープ歪-平均粒内歪チャートと比較する工程とにより試料のクリープ歪を求めてクリープ寿命を予測するようにしたことを特徴とするクリープ寿命予測方法。

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