特許

J-GLOBAL ID：200903083825624080

均一粒状物質の個数判定法

発明者： 佐藤 洋一
出願人/特許権者： 積水化学工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-335018
公開番号（公開出願番号）：特開平5-165962
出願日： 1991年12月18日
公開日（公表日）： 1993年07月02日
要約：

【要約】【目的】 任意に分散して存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判定する方法を提供すること。【構成】 画像中の各パターンの輪郭構成画素の位置情報を基に各パターンの内部を対象として再2値化を行なって、当該パターンの内部のみを抽出し、抽出したパターンに対してラベリング処理を行なうことにより対象物質の個数を求め、その対象物質の個々の重心位置間の最近接距離を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた基準距離と比較し、最近接距離が基準距離を超えているならば粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと判定し、最近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が接着しているものと判定することとなり、任意に分散して存在する均一粒状物質の個数を、接着の有無及びその個数とともに高精度で確実に判定するようにしたものである。

請求項（抜粋）：

任意に分散して存在する均一な粒状物質の個数を判定する、均一粒状物質の個数判定法であって、判定対象の下方から投光してその透過光を多値画像として撮像し、その多値画像を2値画像に変換し、変換された画像中の各パターンの境界を追跡してその輪郭構成画素の位置情報を記憶し、その位置情報を基に各パターンの内部を対象として再2値化を行なって、当該パターンの内部のみを抽出し、抽出したパターンに対してラベリング処理を行なうことにより対象物質の個数を求め、その対象物質の個々の重心位置間の最近接距離を求め、求めた最近接距離を予め定めておいた基準距離と比較し、最近接距離が基準距離を超えているならば粒状物質が接着せずに単独で存在しているものと判定し、最近接距離が基準距離以下であれば粒状物質が接着しているものと判定することを特徴とする均一粒状物質の個数判定法。

IPC (3件)：

G06F 15/70 330 ,  G01N 15/10 ,  G01N 15/14