特許
J-GLOBAL ID：200903083843346594
事例に基づく電子機器不良原因診断装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-186553
公開番号（公開出願番号）：特開平7-044526
出願日： 1993年07月29日
公開日（公表日）： 1995年02月14日
要約：
【要約】【構成】 診断対象電子機器の不良に関して過去に経験した事例を記憶する事例ベース4と、不良現象データを各入力項目の値として受け取る問題解析部5と、事例ベース4に記憶した事例の中から当該不良現象データに該当ないし類似する事例を検索する事例検索部6と、検索された事例の記載事項を修正する事例修正部7と、修正された新たな事例を事例ベースに記憶させる事例格納部9と、修正された新たな事例の記載事項を再度修正する事例修復部8とを備えた。【効果】 熟練者でなくとも、あるいは特別な知識を有しない作業者であっても、過去の該当ないし類似する事例を参照して確実にかつ短時間に不良項目の原因を診断することができ、しかもコンピュータシステムの専門家でなくとも知識ベースの追加や変更を容易に行うことができる。
請求項（抜粋）：
入出力装置と演算処理装置とからなり、演算処理装置上に、プログラムによって構成する機能回路として、診断対象電子機器の不良に関して過去に経験した事例を記憶する事例ベースと、不良現象データを入力するための入力項目を診断対象電子機器に関する点検項目に即して関係項目別に、かつ階層的に順次分類して入出力装置に表示するとともに、不良現象データを各入力項目の値として受け取る問題解析部と、問題解析部で受け取った入力値に基づいて事例ベースに記憶した事例の中から当該不良現象データに該当ないし類似する事例を検索する事例検索部と、検索された事例の記載事項を修正する事例修正部と、修正された新たな事例を事例ベースに記憶させる事例格納部と、修正された新たな事例の記載事項を再度修正する事例修復部とを備えたことを特徴とする事例に基づく電子機器不良原因診断装置。
IPC (3件)：
G06F 17/00
, G06F 11/22 360
, G07C 3/00
