特許

J-GLOBAL ID：200903083861759774

被検査部品搬送機構

発明者： 横山 和久
出願人/特許権者： 東京技研工業株式会社
代理人 (1件)： 中村 政美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-254716
公開番号（公開出願番号）：特開平9-071310
出願日： 1995年09月06日
公開日（公表日）： 1997年03月18日
要約：

【要約】【課題】 画像処理検査装置の有する汎用性を十分に活かすことができる被検査部品搬送機構を提供する。【解決手段】 搬送機構本体と、搬送機構本体の上手側、下手側に夫々配された送入ガイドと排出ガイドとからなり、搬送機構本体は可撓性を有する2本の細線を各々環状に接続して形成した搬送ワイヤと、これら搬送ワイヤを各個に張設して無端回転走行させる2つの搬送駆動部とから構成し、搬送ワイヤは、少なくともその一部分同士が所定の間隔をあけて互いに同一水平面内で平行に走行するように配設した。

請求項（抜粋）：

被検査部品を画像処理検査装置の撮像点を通過させるべく一方向に搬送する搬送機構本体と、平行に対向する2本のレール状に形成され、搬送機構本体の上手側に配されて被検査部品の搬送機構本体への送入を行う送入ガイドと、同じく平行に対向する2本のレール状に形成され、搬送機構本体の下手側に配されて被検査部品の搬送機構本体からの排出を行う排出ガイドとからなり、前記搬送機構本体は可撓性を有する2本の細線を各々環状に接続して形成した搬送ワイヤと、これら搬送ワイヤを各個に張設して無端回転走行させる2つの搬送駆動部とから構成し、前記搬送ワイヤは、少なくともその一部分同士が所定の間隔をあけて互いに同一水平面内で平行に走行するように配設したことを特徴とする被検査部品搬送機構。

IPC (3件)：

B65G 15/12 ,  B65G 47/34 ,  G01B 21/00

FI (3件)：

B65G 15/12 ,  B65G 47/34 ,  G01B 21/00 H