特許

J-GLOBAL ID：200903083913339027

浮遊粉塵測定装置

発明者： 丹羽 猛
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 倉内 義朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-047065
公開番号（公開出願番号）：特開平9-243547
出願日： 1996年03月05日
公開日（公表日）： 1997年09月19日
要約：

【要約】【課題】 エア中に僅かに含まれる浮遊粉塵の粒度分布を、測定下限0.1μm程度まで正確に測定することのできる浮遊粉塵測定装置を提供する。【解決手段】 浮遊粉塵が含まれる試料エアAs とクリーンエアAc とを、エア供給・切換手段3により交互に測定部2のレーザビーム照射領域に供給し、光センサ41・・による回折/散乱光の検出信号を交流化する。光センサ41・・の出力は、信号処理回路5によって交流増幅後に検波し、その検波結果をデジタル化して、レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置の原理に基づく演算手段6に供給することで、低濃度の試料でも正確な粒度分布の測定を可能とする。

請求項（抜粋）：

レーザビーム照射光学系からの平行レーザビームが照射される測定部と、その測定部のレーザビーム照射領域を横切るように、浮遊粉塵が含まれる試料エアとクリーンエアとを交互に切り換えて供給するエア切換・供給手段と、上記測定部の浮遊粉塵によるレーザビームの回折/散乱光の空間強度分布を測定するための光センサ群と、その各光センサ群の出力をそれぞれ交流増幅した後に検波し、その検波結果をデジタル化する回路手段と、そのデジタルデータを用いた演算によって試料エア中の浮遊粉塵の粒度分布を算出する演算手段を備えた浮遊塵測定装置。

IPC (3件)：

G01N 15/02 ,  G01N 21/47 ,  G01N 21/53

FI (3件)：

G01N 15/02 C ,  G01N 21/47 A ,  G01N 21/53 A

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 粒度測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-074501   出願人：日本たばこ産業株式会社
• 特開昭54-043095