特許
J-GLOBAL ID：200903083923029433
微粒子の吸収スペクトルの計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
西澤 利夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-250210
公開番号（公開出願番号）：特開平6-102168
出願日： 1992年09月18日
公開日（公表日）： 1994年04月15日
要約：
【要約】【目的】【構成】 微粒子をレーザー光照射により捕捉しつつ顕微分光吸収スペクトルを計測する単一微粒子の吸収スペクトルの計測方法。【効果】 マイクロエレクトロニクス、生物工学、材料科学、色彩工学などの諸分野で有用な、単一微粒子の精密計測方法を可能とする。
請求項（抜粋）：
単一微粒子をレーザー光照射により捕捉つつ顕微分光吸収スペクトルを計測することを特徴とする単一微粒子の吸収スペクトルの計測方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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