特許

J-GLOBAL ID：200903083932024380

微小試験片用疲労試験機

発明者： 土居 博昭 ,  河野 賢哉 ,  南谷 林太郎 ,  初田 俊雄
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 高田 幸彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-250851
公開番号（公開出願番号）：特開平5-087718
出願日： 1991年09月30日
公開日（公表日）： 1993年04月06日
要約：

【要約】【構成】変位発生部,荷重検出部,試験片固定部、及びこれらを保持する筐体5よりなる疲労試験機において試験時に生じる荷重を検出し、この荷重とあらかじめ測定した筐体5の荷重-たわみ関係を用い算出した試験片の変位を目標値に一致させるように変位発生部の変位を制御する。【効果】変位測定装置を取り付けことができない微小な試験片に対して検出荷重を用い変位制御の疲労試験を行うことができる。

請求項（抜粋）：

変位発生部,荷重検出部,試験片の固定部、及びこれらを保持する筐体よりなる疲労試験機において、試験時に生じる荷重を検出し、前記荷重とあらかじめ測定した筐体の荷重-たわみ関係を用い算出した試験片の変位を、目標値に一致させるように前記変位発生部の変位を制御することを特徴とする微小試験片用疲労試験機。