特許

J-GLOBAL ID：200903084023307779

半田付け検査方法とその装置

発明者： 松永 喜久生 ,  鈴木 規之 ,  岡橋 善一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-153951
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015171
出願日： 1994年07月05日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】 撮像カメラからの検査情報だけで、半田付け部周縁への半田の馴染みの違いによる良否を精度よく判別できるようにする。【構成】 母材の導体部7とこれに当てがわれた半田付け対象物1の周縁1cとの間の半田付け部3の明暗変化を撮像した撮像データから、半田付け対象物1の半田付け部周縁1c形状に対応した明暗変化点を検出し、この検出結果により、半田付けの良否を判定する。

請求項（抜粋）：

母材の導体部とこれに当てがわれた半田付け対象物の周縁との間の半田付け部を撮像した撮像データから、半田付け対象物の半田付け部周縁形状に対応した明暗変化点を検出し、この検出結果により、半田付けの良否を判定することを特徴とする半田付け検査方法。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G06T 7/00 ,  H05K 3/34 512