特許
J-GLOBAL ID：200903084030772185
歪み測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
深見 久郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-352852
公開番号（公開出願番号）：特開2000-180131
出願日： 1998年12月11日
公開日（公表日）： 2000年06月30日
要約：
【要約】【課題】 高精度の測定が可能で、かつ構成が簡単な歪み測定装置を提供する。【解決手段】 折り返し素子6は、被測定ファイバFを介して入射された励起光パルスP1を吸収しブリルアン散乱光パルスP2を反射させる。タイミング回路11は、光スイッチ9で生成され折り返し素子6で反射された光パルスP2と光スイッチ3で生成された光パルスP1とが測定点Aで衝突するように光スイッチ9,3を制御する。1本の光ファイバFで閉ループを構成するので、往復2本の光ファイバで閉ループを構成していた従来に比べ、構成の簡単化が図られる。
請求項（抜粋）：
光ファイバの延在方向における所望の測定点の歪みを測定するための歪み測定装置であって、前記光ファイバ内においてブリルアン散乱光を発生させるための励起光を出射する光源、前記光源から出射された励起光を受け、パルス的に導通して励起光パルスを生成し、その励起光パルスを前記光ファイバの一方端に与えるための第1の光スイッチ、前記光ファイバの一方端に到達したブリルアン散乱光のうちの前記測定点で発生したブリルアン散乱光のみを通過させてブリルアン散乱光パルスを生成し、そのブリルアン散乱光パルスを前記光ファイバの一方端に与えるための第2の光スイッチ、前記光ファイバの他方端に設けられ、前記光ファイバを介して入射された励起光パルスを吸収しブリルアン散乱光パルスを反射させる選択的反射手段、前記第2の光スイッチで生成され前記選択的反射手段によって反射されたブリルアン散乱光パルスと前記第1の光スイッチで生成された励起光パルスとが前記測定点で衝突するように前記第1および第2の光スイッチを制御する制御手段、および前記励起光パルスと衝突して増幅されたブリルアン散乱光パルスの光波長を検出し、前記測定点における前記光ファイバの歪みを求めるための光波長検出手段を備える、歪み測定装置。
IPC (2件)：
G01B 11/16
, G02F 1/35 502
G01B 11/16 Z
, G02F 1/35 502
2F065AA65
, 2F065CC14
, 2F065GG08
, 2F065LL02
, 2F065LL20
, 2F065LL22
, 2F065LL67
, 2F065QQ44
, 2K002AA04
, 2K002AB12
, 2K002BA02
, 2K002CA15
, 2K002DA10
, 2K002EA08
, 2K002GA10
, 2K002HA24
