試験片を光学的に評価する装置及び方法

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：最上健治
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-553543
公開番号（公開出願番号）：特表2007-523335
出願日： 2005年02月18日
公開日（公表日）： 2007年08月16日
要約：

【課題】試験片の光学的に検出可能な信号を高速で評価し、高い確実性で各被験者に割り付けることが可能な試験片の光学的評価装置及び方法を提供する。【解決手段】被検試料との接触後に光学的に検出可能な信号を発生できる少なくとも1つの限定領域(13)をそれぞれ有する試験片(12)を光学的に評価する装置において、試験片及び/又は所定の平面状配置状態で結合された複数の試験片(12)からなる試験片ユニット(11)のための少なくとも1つの受け部を有する位置決め装置(21)と、位置決め装置の受け部に配置した試験片又は試験片ユニットの少なくとも1つの限定領域(13)を画像的に検知し、検知結果を画像解析装置に転送する画像生成装置とを有し、画像解析装置が、各試験片について光学的に検出可能な信号を定性的及び/又は定量的に評価するように構成する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

被検試料との接触後に光学的に検出可能な信号を発生できる少なくとも1つの限定領域(13)をそれぞれ有する試験片(12)を光学的に評価する装置であって、 a)下記のための少なくとも1つの受け部を有する位置決め装置(21)と、 aa)試験片及び/又は ab)所定の平面状配置状態で結合された複数の試験片(12)からなる試験片ユニット(11)、 b)位置決め装置の受け部に配置した試験片又は試験片ユニットの少なくとも1つの限定領域(13)を画像的に検知し、検知結果を画像解析装置に転送する画像生成装置と、を有し、 c)画像解析装置が、各試験片について光学的に検出可能な信号を定性的及び/又は定量的に評価する形式の装置。

IPC (4件)：

G01N 21/27 , G01N 21/78 , G01N 21/17 , G01N 21/64

FI (5件)：

G01N21/27 A , G01N21/78 Z , G01N21/17 A , G01N21/27 F , G01N21/64 Z

Fターム (27件)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA03 , 2G043DA02 , 2G043DA06 , 2G043EA01 , 2G043GA07 , 2G043GB19 , 2G043KA02 , 2G043LA03 , 2G043NA05 , 2G043NA13 , 2G054CA23 , 2G054CA25 , 2G054EA03 , 2G054EA06 , 2G059AA05 , 2G059BB04 , 2G059BB12 , 2G059DD13 , 2G059EE07 , 2G059EE11 , 2G059FF01 , 2G059HH02 , 2G059KK04 , 2G059MM09 , 2G059MM14

引用特許：

出願人引用 (1件)

DE10147012

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