特許

J-GLOBAL ID：200903084053288728

検出用基板

発明者： 野村 幸男 ,  釼持 一美 ,  長野 誠 ,  提箸 幸子 ,  江頭 徹 ,  近藤 雅敏
出願人/特許権者： 株式会社ビー・エム・エル
代理人 (1件)： 志村 光春
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2002010407
公開番号（公開出願番号）：WO2003-031972
出願日： 2002年10月07日
公開日（公表日）： 2003年04月17日
要約：

a)基板表面に、多数のウエルが設けられている検出用基板、b)この検出用基板、および、ウエルの封着手段を行う要素からなる検出用セット、ならびに、c)検出用基板の各々のウエルに、液相反応の検出を行うための要素を注入し、ウエルの封着手段を用いて、この液相反応の検出を行うための要素を、ウエル内に封入し、各々のウエルにおける液相反応による検出を行う、b)の検出用セットの使用方法を提供することにより、液相反応を、基板上で、現状のマイクロアレイ技術と同様に、集約的に行う手段を提供する。

請求項（抜粋）：

基板表面に、多数のウエルが設けられている、検出用基板。

IPC (3件)：

G01N33/53 ,  C12Q1/68 ,  G01N33/566

FI (4件)：

G01N33/53 M ,  C12Q1/68 A ,  G01N33/566 ,  C12N15/00 A