特許

J-GLOBAL ID：200903084071996209

座標測定装置

発明者： 木村 栄雄 ,  大塚 英夫 ,  藤田 良久
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 黒田 博道 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-279033
公開番号（公開出願番号）：特開平10-124300
出願日： 1996年10月22日
公開日（公表日）： 1998年05月15日
要約：

【要約】【課題】 座標測定装置により形状の近似した多数の測定対象を測定するに際し、各測定結果を電子データとし、且つ、測定準備を単純化して検査効率を高めることが困難であった。【解決手段】 ジョブファイルとして記述されたプログラムに基づいて測定物を自動測定する座標測定装置10において、スタート操作が行われるとジョブファイルをコピーして実行ファイルを作成する実行ファイル作成手段23と、実行ファイルから変更可能なパラメータを読み出して表示手段15に表示させるパラメータ表示制御手段24と、表示されたパラメータが入力手段17の操作により変更されたとき、変更後のパラメータを実行ファイルに書き込むパラメータ設定入力手段25と、設定完了の操作が行われると実行ファイルによる測定処理を開始させる起動手段27と、を有する座標測定装置10とする。

請求項（抜粋）：

ジョブファイルとして記述されたプログラムに基づいて測定物を自動測定する座標測定装置において、スタート操作が行われると前記ジョブファイルをコピーして実行ファイルを作成する実行ファイル作成手段と、前記実行ファイルから変更可能なパラメータを読み出して表示手段に表示させるパラメータ表示制御手段と、前記表示されたパラメータが入力手段の操作により変更されたときは、変更後のパラメータを前記実行ファイルに書き込むパラメータ設定入力手段と、設定完了の操作が行われると前記実行ファイルのプログラムによる測定処理の実行を開始させる起動手段と、を有することを特徴とする座標測定装置。

IPC (2件)：

G06F 9/06 410 ,  G01B 21/00

FI (2件)：

G06F 9/06 410 B ,  G01B 21/00 G

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭61-147335
  
• 射出成形機
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-270928   出願人：ファナック株式会社
• 特開昭61-147335