特許
J-GLOBAL ID：200903084084191820
3次元物体の測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森本 義弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-164861
公開番号（公開出願番号）：特開平9-014935
出願日： 1995年06月30日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：
【要約】【目的】 三角測量法による測定の対象である3次元物体の表面が粗面であるか鏡面であるかにかかわらず、光学系に変更を要することなくこの物体を測定できるようにする。【構成】 レーザ光源10からの二つの光19、20をそれぞれ異なる角度で2方向から測定対象物体22に向かわせ、これらの光19、20をシリンドリカルレンズ21、24によって物体22上にライン状に照射させる。一方の光19の照射により物体22から散乱反射光が生じたときに、この散乱反射光のみを一対の第1の受光系27、28によって受光させる。他方の光20の照射により物体22から鏡面反射光が生じたときに、この鏡面反射光のみを第2の受光系37によって受光させる。
請求項（抜粋）：
3次元物体を三角測量法にもとづいて測定する装置であって、光源からの二つの光をそれぞれ異なる角度で2方向から測定対象物体に向かわせる手段と、これら2方向からの光をそれぞれ測定対象物体上にライン状に照射させる手段と、一方のライン状の光の照射により測定対象物体から散乱反射光が生じたときに、この散乱反射光を、他方のライン状の光の照射にもとづく測定対象物体からの反射光から分離して受光する第1の受光手段と、前記他方のライン状の光の照射により測定対象物体から鏡面反射光が生じたときに、この鏡面反射光を、前記一方のライン状の光の照射にもとづく測定対象物体からの反射光から分離して受光する第2の受光手段とを有することを特徴とする3次元物体の測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/24 C
, G01C 3/06 A
