特許
J-GLOBAL ID:200903084091280919

光クロック抽出方法及び抽出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴木 章夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-042473
公開番号(公開出願番号):特開平9-237929
出願日: 1996年02月29日
公開日(公表日): 1997年09月09日
要約:
【要約】【課題】 受動モード同期半導体レーザを用いて光パルスデータ列から光クロックパルス列を得る光クロック抽出装置では、光パルスデータ列の整数倍のクロック周波数の光クロックパルス列を得ることができない。【解決手段】 モード同期半導体レーザ1の光の周回周波数あるいはその整数倍とほぼ等しいクロック周波数をもつ光パルスデータ列S1を入力する。また、モード同期半導体レーザ1の可飽和吸収領域11a,11bと利得領域12a〜12cに対するバイアス条件を変化させることで、光パルスデータ列S1のクロック周波数を繰り返し周波数とする光クロックパルス列S2を出力することが可能とされる。1つの光クロック抽出装置で、周波数fとその整数倍の周波数mfの光クロックパルス列を得ることができる。
請求項(抜粋):
入力光をモード同期半導体レーザに入射し、このモード同期半導体レーザから前記入力光に対応した出力光を出射するようにした光クロック抽出方法において、前記入力光を前記モード同期半導体レーザの光の周回周波数あるいはその整数倍とほぼ等しいクロック周波数をもつ光パルスデータ列として入力し、このクロック周波数に基づいて前記モード同期半導体レーザに印加するバイアス条件を変化させ、前記光パルスデータ列のクロック周波数を繰り返し周波数とする光クロックパルス列を出力することを特徴とする光クロック抽出方法。
IPC (9件):
H01S 3/098 ,  G02B 6/00 ,  G04G 3/00 ,  H01S 3/18 ,  H04B 10/28 ,  H04B 10/26 ,  H04B 10/14 ,  H04B 10/04 ,  H04B 10/06
FI (5件):
H01S 3/098 ,  G04G 3/00 Z ,  H01S 3/18 ,  G02B 6/00 C ,  H04B 9/00 Y

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