特許

J-GLOBAL ID：200903084133045320

ガス中微量物の分析法及び分解法並びにこれらに使用する多面鏡装置

発明者： 鈴木 康夫 ,  池畑 隆
出願人/特許権者： 東京電子株式会社 ,  鈴木 康夫
代理人 (1件)： 大塚 忠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-284611
公開番号（公開出願番号）：特開2001-108657
出願日： 1999年10月05日
公開日（公表日）： 2001年04月20日
要約：

【要約】【課題】 レーザーイオン化によりガス中の極微量物を高感度で分析したり、確実に分解、無害化すること。【解決手段】 多面鏡装置1を一対の鏡面群A,Bで構成する。鏡面群A,Bは多数の凹面鏡を環状に夫々配置固定する。鏡面群A,B間を往復するレーザーLは、鏡面を順次変えつつ反射し、交互に交差し、この交差部に光束集合領域Fを形成する。この光束集合領域FにノズルNから圧縮ガスGを噴射することにより、光反応によって電離した分子流の粒子がイオン捕集ガイド10による電場で捕集され、飛行時間質量分析器12へ導かれ、分析・検出されて質量スペクトルがモニター13に表示されて、ダイオキシンの同定、定量分析が可能となる。光束集合領域Fを圧縮ガスGに反応させることにより光反応の効率が高まり、分析感度が上がる。

請求項（抜粋）：

反射往復するレーザー光を小空間領域で交互に交差させて柱状のレーザー光束の集合領域を形成し、この光束集合領域でガス中の微量物を共鳴イオン化し、そのイオンを質量分析法により分析することにより、微量物を量的・質的に高感度で分析することを特徴とするガス中微量物の分析法。

IPC (2件)：

G01N 27/64 ,  G01N 27/62 ZAB

FI (2件)：

G01N 27/64 B ,  G01N 27/62 ZAB V