特許

J-GLOBAL ID：200903084133819112

電磁波照射量測定装置及び電磁波照射量測定方法

発明者： 柿沼 伸明
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 森 哲也 ,  内藤 嘉昭 ,  崔 秀▲てつ▼
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-072560
公開番号（公開出願番号）：特開2004-279277
出願日： 2003年03月17日
公開日（公表日）： 2004年10月07日
要約：

【課題】リアルタイムで照射量を測定可能であるとともに、小型化及び低消費電力化を実現し携帯可能な電磁波照射量測定装置及び電磁波照射量測定方法を提供する。【解決手段】電磁波の被照射部となるMOSトランジスタ10を組み込んだ携帯可能なバッジ100と、このMOSトランジスタ10に照射された電磁波の照射量を測定する照射量測定装置200とを別体で構成し、MOSトランジスタ10の閾値電圧の変化量に基づいて、電磁波の照射量を測定する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

電磁波の照射量を測定する電磁波照射量測定装置であって、前記照射量を、トランジスタの閾値電圧の変化量に基づいて測定するようになっていることを特徴とする電磁波照射量測定装置。

IPC (3件)：

G01T1/02 ,  G01J1/02 ,  H01L31/09

FI (3件)：

G01T1/02 B ,  G01J1/02 G ,  H01L31/00 A

Fターム (20件)：

2G065AA04 ,  2G065AB05 ,  2G065BA40 ,  2G065BC01 ,  2G088BB05 ,  2G088FF02 ,  2G088FF19 ,  2G088JJ09 ,  2G088KK05 ,  2G088KK07 ,  2G088KK39 ,  5F088AA09 ,  5F088AB03 ,  5F088AB05 ,  5F088BA20 ,  5F088DA03 ,  5F088DA17 ,  5F088GA02 ,  5F088GA03 ,  5F088LA08