特許

J-GLOBAL ID：200903084173798045

検知装置

発明者： 羽生田 謙治
出願人/特許権者： 株式会社日本アレフ
代理人 (1件)： 平山 一幸 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-279085
公開番号（公開出願番号）：特開平11-120451
出願日： 1997年10月13日
公開日（公表日）： 1999年04月30日
要約：

【要約】【課題】 簡単な構成により低コストで、測定環境の明るさや外乱光の影響を受けずに、検知領域内への侵入者等を高感度で検出し得る検知装置を提供する。【解決手段】 検知装置10は、赤外線発光素子11と、発振回路12,アップカウンタ13,調整回路としてのオフディレー回路14及び投光回路15と、赤外線受光素子16と、この赤外線受光素子16の受光信号を処理するための切換え回路としてのマルチプレクサ17,二重積分回路18,同期検波増幅回路19,平滑回路20,比較回路としてのウィンドーコンパレータ回路21及び警報回路22と、赤外線発光素子11及び赤外線受光素子16の前に配置された可視光カットフィルタ23とを含んでいる。

請求項（抜粋）：

検知領域にパルス光を照射する発光手段と、検知領域からの反射光を受光する受光手段と、この受光手段からの受光信号を、外乱光測定及び信号光測定に切り換える切換え手段と、この切換え手段により切り換えられた外乱光による信号を逆積分する二重積分処理手段と、この二重積分処理手段からの信号光による信号の変化をトリガレベルと比較して検知信号を出力する比較手段と、この比較手段からの検知信号に基づいて警報を発生させる警報手段と、を含んでいることを特徴とする、検知装置。

IPC (4件)：

G08B 13/181 ,  G01S 17/02 ,  G01V 3/12 ,  G01V 8/12

FI (4件)：

G08B 13/181 ,  G01V 3/12 A ,  G01S 17/02 A ,  G01V 9/04 K

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開平2-093997
  
• 特開昭62-005112
  
• 光学式変位測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-219332   出願人：松下電工株式会社
• 特開昭63-132110
  

審査官引用 (3件)

• 特開平2-093997
  
• 特開昭62-005112
  
• 光学式変位測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-219332   出願人：松下電工株式会社