特許
J-GLOBAL ID:200903084262029640
光学式移動量検出装置及び電子機器及び搬送処理システム
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
山崎 宏
, 前田 厚司
, 仲倉 幸典
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-121395
公開番号(公開出願番号):特開2004-325296
出願日: 2003年04月25日
公開日(公表日): 2004年11月18日
要約:
【課題】表面が滑らかな被検出物であっても移動量を精度よく測定できる光学式移動量検出装置を提供すること。【解決手段】発光部11からの光を被検出物10の移動方向に平行な線状ビームにして被検出物10に照射する。そして、被検出物10から反射された線状ビームである線状反射ビームを受光部17に入射させる。このようにして、第1の時点における受光部17からの第1出力波形信号と、第2の時点における受光部17からの第2出力波形信号とをメモリ部33に格納し、移動量検出部34により、第1出力波形信号と第2出力波形信号とのズレ量を検出して、このズレ量に基づいて被検出物10の移動量を算出する。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
発光部と、
受光部と、
上記発光部からの光を被検出物の移動方向に平行な線状ビームにして上記被検出物に照射する第1光学系と、
上記被検出物から反射された上記線状ビームである線状反射ビームを上記受光部に入射させる第2光学系と、
第1の時点において上記受光部が上記線状反射ビームを受けて出力する上記線状反射ビームの長さ方向に沿った出力分布を表す第1の出力波形信号と、第2の時点において上記受光部が上記線状反射ビームを受けて出力する上記線状反射ビームの長さ方向に沿った出力分布を表す第2の出力波形信号とを格納するメモリ部と、
上記第1出力波形信号と上記第2出力波形信号との間の上記線状反射ビームの長さ方向のズレ量を検出して、このズレ量に基づいて上記被検出物の移動量を検出する移動量検出部と
を備えることを特徴とする光学式移動量検出装置。
IPC (4件):
G01B11/00
, B41J11/42
, B65H7/14
, G03G15/00
FI (4件):
G01B11/00 A
, B41J11/42 M
, B65H7/14
, G03G15/00 518
Fターム (43件):
2C058AB03
, 2C058AD01
, 2C058AD04
, 2C058AE02
, 2C058AE09
, 2C058GA02
, 2C058GB04
, 2C058GB20
, 2C058GB30
, 2C058GB53
, 2F065AA02
, 2F065AA07
, 2F065AA09
, 2F065AA19
, 2F065BB01
, 2F065CC02
, 2F065DD02
, 2F065DD06
, 2F065FF01
, 2F065FF04
, 2F065FF42
, 2F065GG06
, 2F065HH05
, 2F065JJ02
, 2F065JJ25
, 2F065LL08
, 2F065LL37
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065QQ28
, 2H072AA09
, 2H072AA16
, 2H072AA22
, 2H072CA01
, 3F048AA02
, 3F048AA05
, 3F048AB01
, 3F048BA21
, 3F048BB10
, 3F048DA06
, 3F048DC14
, 3F048DC15
, 3F048EB37
引用特許:
審査官引用 (3件)
-
特開昭62-261903
-
特開昭63-153411
-
画像位置ずれ計測装置及び計測方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-085450
出願人:株式会社リコー
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