特許

J-GLOBAL ID：200903084276272580

材料表層部における材料変質度の測定方法およびその測定装置

発明者： 福原 幹夫 ,  桑野 芳行
出願人/特許権者： 東芝タンガロイ株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-186471
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029398
出願日： 1994年07月15日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：

【要約】【目的】 超音波を利用して材料表層部における材料変質度を定量的に評価する方法およびその測定装置を提供する。【構成】 被測定材料9の一表面部に密着圧接させて置いた発振器1より超音波を発振し、表層部を伝播する超音波を受振器2にて回折受振する。次に、発振器1と受振器2との間隔を変えて同様の測定を行ない、これによって得られる2つの受振音圧から被測定材料9の表層部における超音波の減衰係数αを算出する。さらに、表層部の変質層を除去した標準試料16に対して上記測定を繰り返し、得られた2つの受振音圧から標準試料16の表層部における超音波の減衰係数α0を算出し、規格化(α-α0)値をもって材料変質度の評価基準とする。これにより、材料変質度が非破壊にて定量的に測定、評価できるようになる。

請求項（抜粋）：

被測定材料9の一表面部に密着圧接して置かれた超音波の発振器1より超音波が発振され、前記被測定材料9の表層部を伝播する超音波を、前記発振器1に離間して置かれた超音波の受振器2にて回折受振したのち、発振器1と受振器2との間隔を変えて前記と同じ測定を行ない、これによって得られる2つの受振音圧から被測定材料9の表層部における超音波の減衰係数αを算出し、次に、前記被測定材料9と同一材料であって表層部の変質層の除去された標準試料16を対象として上記測定を繰り返し、これによって得られる2つの受振音圧から標準試料16の表層部における超音波の減衰係数α0を算出し、前記減衰係数αおよび減衰係数α0から計算される規格化(α-α0)値をもって材料変質度の評価基準とすることを特徴とする材料表層部における材料変質度の測定方法。

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-085443
  
• 特開平3-085443
  
• 特開平3-085443
  
• 特開平3-085443