特許
J-GLOBAL ID：200903084369994977
X線パルスの計測方法及び計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高橋 敬四郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-232542
公開番号（公開出願番号）：特開2001-056378
出願日： 1999年08月19日
公開日（公表日）： 2001年02月27日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 高強度のX線パルスの計測に適したX線パルスの計測方法及び計測装置を提供する。【解決手段】 X線パルス2を水11中に入射させ、水和電子を生成させる。水和電子による光吸収量を測定する。
請求項（抜粋）：
X線パルスを水中に入射させ、水和電子を生成させる工程と、前記水和電子による光吸収量を測定する工程とを有するX線パルスの計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01T 1/16 B
, G21K 5/02 X
