雑音発生用ツェナ-ダイオ-ドの選別方法及び安定化雑音発生回路

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：櫻井俊彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-202033
公開番号（公開出願番号）：特開2000-088913
出願日： 1999年07月15日
公開日（公表日）： 2000年03月31日
要約：

【要約】【課題】雑音発生用ツェナーダイオードの選別方法であって、合否判定の所要時間を短縮でき、判定基準の一元化と客観化が可能なものを提供する。【解決手段】逆バイアス電圧の印加状態で発生する雑音出力のバイアス電圧依存性を検査することにより、ツェナーダイオードの選別が行われる。上記雑音出力は、好適には、検波雑音電圧として検出される。上記バイアス電圧依存性は、好適には、選別対象のツェナーダイオードのバイアス電圧を掃引し、検出される検波雑音電圧を縦軸に、バイアス電圧を横軸として特性曲線を二次元表示することによって検査される。

請求項（抜粋）：

逆バイアス電圧の印加状態で発生する雑音出力のバイアス電圧依存性を検査することにより、ツェナーダイオードを選別することを特徴とする雑音発生用ツェナーダイオードの選別方法。

IPC (4件)：

G01R 31/26 , H01L 29/866 , H03B 29/00 , H03K 3/84

FI (4件)：

G01R 31/26 C , H03B 29/00 , H03K 3/84 Z , H01L 29/90 D

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開昭49-126245
特公昭51-021548

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