特許
J-GLOBAL ID：200903084459680920
分散型EL素子の検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-157312
公開番号（公開出願番号）：特開平5-333091
出願日： 1992年05月26日
公開日（公表日）： 1993年12月17日
要約：
【要約】【目的】 一連のEL素子の発光特性、電気的物性の初期特性検査を同一装置にて実施し、検査時間の大幅短縮と省力化を図る。【構成】 EL素子を自動供給し、コンピューターにより制御した計測機器及び駆動電源を用いて、EL素子の発光特性、電気的物性の各特性値を計測し、さらに計測データーの判定と良品、不良品の選別作業及び計測データーの記録保存を自動的に行なう図1の検査装置を用いる。
請求項（抜粋）：
分散型EL素子の発光特性、電気的物性の初期検査において、EL素子を自動供給し、コンピューターにより制御した計測機器及び駆動電源を用いて、EL素子の発光特性、電気的物性の各特性値を計測し、さらに計測データーの判定と良品、不良品の選別作業及び計測データーの記録保存を自動的に行なうことを特徴とする分散型EL素子の検査装置。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, G01M 11/00
, H05B 33/10
