特許

J-GLOBAL ID：200903084529060879

分析装置及び方法

発明者： 吉川 孝三 ,  山内 澄男 ,  厚見 真喜男
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-372179
公開番号（公開出願番号）：特開2003-172697
出願日： 2001年12月06日
公開日（公表日）： 2003年06月20日
要約：

【要約】【課題】 分析装置及び方法において、有害物質の定量分析を容易に高感度で実施可能とする。【解決手段】 レーザ発振器11からのレーザ光101aを試料Aに照射することで、汚染土壌に含有する無機系有害物質(水銀など)にエネルギを与えて基底状態から励起状態となると共に原子化するものが生じ、再び基底状態に戻るときに発光すると共に原子化するものが生じる一方、水銀ランプ22から所定の波長(253.7nm)の光102aをこの試料Aに向けて照射することで、原子化した水銀の原子に相当量(含有量)の光を吸収させ、吸収されずに通過した残りの光102cを採光してその光102cの大きさに応じて試料A中の水銀の量を求める。

請求項（抜粋）：

所定の波長のレーザ光を被検査物に照射するレーザ光照射手段と、前記レーザ光の照射による前記被検査物における発光部に対して分析対象物に対応する波長の光を照射する分析光照射手段と、前記発光部を通過した前記分析光の強度に基づいて前記被検査物中の分析対象物の量を求める第1対象物量検出手段とを具えたことを特徴とする分析装置。

IPC (4件)：

G01N 21/31 610 ,  G01N 21/63 ,  G01N 33/00 ,  G01N 33/24

FI (4件)：

G01N 21/31 610 Z ,  G01N 21/63 A ,  G01N 33/00 D ,  G01N 33/24 B

Fターム (45件)：

2G043AA01 ,  2G043BA04 ,  2G043BA05 ,  2G043BA14 ,  2G043CA03 ,  2G043CA05 ,  2G043DA04 ,  2G043EA01 ,  2G043FA06 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043JA01 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB08 ,  2G059CC02 ,  2G059CC12 ,  2G059DD11 ,  2G059EE01 ,  2G059EE06 ,  2G059EE12 ,  2G059GG01 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ07 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK02 ,  2G059KK04 ,  2G059NN06